葉面積指數測量儀

產品介紹

HM-G10植物冠層測量儀可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmol㎡/秒）。

功能特點
非破壞性測量：與傳統的葉片切割法相比，葉面積指數測量儀能夠在不破壞植物的情況下進行測量，對植物的影響較小。
快速高效：儀器可以在較短的時間內獲得大量的數據，提高工作效率。
數據準確性：由于采用了的光學技術和算法，所得到的數據相對準確可靠。
多功能性：除了測量LAI外，一些的儀器還能夠提供關于冠層結構的更多信息，如光合有效輻射透過率、冠層間隙概率分布等。

應用范圍
作物管理：通過監測LAI值的變化，可以評估作物的生長狀況，及時調整施肥、灌溉等管理措施，優化作物生長環境，提高作物產量和品質。
生態研究：在生態學研究中，LAI是一個重要的生態指標，可用于研究植被覆蓋度、生物量以及碳循環等問題。
氣候變化研究：葉面積指數的變化與氣候條件密切相關，因此在研究氣候變化對生態系統的影響時，LAI數據是非常寶貴的參考資料。
林業管理：在林業管理中，可用于評價森林和其他植被的生長狀況，監測植被覆蓋的變化。長期監測LAI數據可以指導林業保護和可持續管理策略的制定。

技術參數
測量范圍：0-2700μmol㎡/秒
分辨率：1μmol㎡/秒
響應時間：10μs
自動采集間隔：1-99分鐘
自動采集次數：1-99次
數據存儲容量：2GB（標配SD卡）
儀器總長度：75 cm
探桿長度：50 cm
傳感器數量：25個（標配）
電源：2節5號電池
工作環境：0°C-60°C；100%相對濕度

葉面積指數測量儀可廣泛應用于農業生產和農業科研，為進行冠層光能資源調查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發育、產量品質與光能利用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmol㎡/秒）。

使用方法
選擇代表性測量區域：在農田或試驗田中，選擇植被類型一致、生長條件良好的代表性區域進行測量。確保測量區域能夠反映整體增長情況。
設置測量參數：根據設備說明書，調整儀器的角度、高度和測量模式，確保測量區域全覆蓋。對于非接觸式測量儀器，還需要注意光照條件，避免在陰天或光線不好的環境下測量。
啟動設備并記錄數據：啟動設備后，按照說明收集數據。為確保數據準確性，建議在不同時間段重復測量并取平均值。同時記錄測量時間、環境條件等信息，以供后續分析。
數據清洗與分析：將采集到的數據輸入到分析軟件中，利用軟件提供的工具進行數據清洗與分析。通過計算平均LAI值并繪制生長曲線來探索植物生長與環境條件之間的關系。